EPK測(cè)厚儀機(jī)械測(cè)厚儀影響精度因素

由于測(cè)厚儀經(jīng)過校準(zhǔn)后，在使用中不能再變動(dòng)。所以，在實(shí)際使用中，可能會(huì)出現(xiàn)的一些影響測(cè)量精度的因素必須加以考慮，并對(duì)測(cè)量結(jié)果進(jìn)行必要的修正，具體因素如下：

A.鋼基體的磁性和光澤

B.基底金屬的厚度:

儀器有一個(gè)很小的基體臨界厚度值z(mì)ui。不同型號(hào)的厚度值不同。請(qǐng)參考技術(shù)規(guī)格。如果厚度超過zui的這個(gè)小臨界厚度值，測(cè)量值不會(huì)受到影響。否則讀數(shù)值高。

C.邊絕效應(yīng)

測(cè)量方法對(duì)被測(cè)物體表面形狀的突變敏感，如邊界、孔洞、空洞等。因此，在邊緣或內(nèi)角附近測(cè)量是不可靠的。所以技術(shù)規(guī)范指標(biāo)指出了zui的測(cè)量面積小。如果你想測(cè)量，你必須檢查和驗(yàn)證。

D.彎曲

被測(cè)工件的曲率對(duì)測(cè)量有影響。一般凸面會(huì)導(dǎo)致測(cè)量值過大，凹面過小。雖然儀器設(shè)計(jì)對(duì)此進(jìn)行了補(bǔ)償。

E.覆蓋層厚度

厚度測(cè)量精度隨表面涂層厚度的變化而變化。對(duì)于薄涂層，測(cè)量精度是常數(shù)，與涂層厚度無(wú)關(guān)；對(duì)于涂層的厚度，其精度大致與涂層厚度成正比。

F.剩磁

金屬的剩磁會(huì)影響Mikrotest測(cè)厚儀的測(cè)量結(jié)果。

G.磁場(chǎng)

周圍各種電氣設(shè)備產(chǎn)生的強(qiáng)磁場(chǎng)會(huì)嚴(yán)重干擾儀器的工作。

H.地心引力

Mikrotest測(cè)厚儀的測(cè)量讀數(shù)受探頭相對(duì)于地球的重力方向的影響。